為了進一步響應國家及學校對於大型科學儀器開放共享的若幹舉措🧑🦼➡️，更好地提高大型精密儀器的使用效益，更全面滿足校內廣大師生的需求，電鏡中心在前期培訓的經驗基礎上，針對掃描電鏡啟動新一期培訓。詳情如下：
聚焦離子束(Focused Ion beam, FIB)的系統是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的顯微切割儀器，液相金屬離子源,金屬材質為镓(Gallium, Ga)可以進行材料沉積和化學增強刻蝕，通過註入特殊的化學氣體🧘🏻♂️，離子束可以沉積一些材料形成亞微米的結構，氣體化學系統結合離子束可以形成化學刻蝕來進行選擇性切割🧔🏿♂️。高能聚焦離子束轟擊樣品時↙️，其動能會傳遞給樣品中的原子分子🙆🏿，產生濺射效應💅，從而達到不斷蝕刻，即切割樣品的效果🙍🏿♂️💸。其切割定位精度能達到納米級別，具有超高的切割精度。
可滿足多種製樣需求，例如👨⚕️：透射電鏡樣品製備、離子註入👨🏿🏭、離子束沉積薄膜、離子束蝕刻等。在FIB-SEM雙束系統中🤰🏽，聚焦離子束和電子束優勢互補🕵🏼♂️。離子束成型襯度大，但存在損傷樣品和分辨率低的缺點，電子束激發的二次電子成像分辨率高、對樣品損傷小，但襯度較低🕞，兩者組合可獲得更清晰準確的樣品表面信息目前5nm的加工精度、無汙染和不損傷樣品在樣品加工方面存在這巨大優勢🧑🎤🧚🏽，是其他樣品製備設備無法達到的水平。
一、培訓設備
FEI Helios G4 UX場發射聚焦離子束電子顯微鏡(FIB)
二、培訓時間
另行通知
三、培訓內容
FIB基礎理論、使用方法、使用規則等
四、培訓形式
集中培訓🦞👎🏽、上機操作🧕🏿、單獨考核
五、培訓收費
培訓免費，但每個學員培訓後兩個月內至少要完成20個小時的上機練習並通過考核後方可獲得獨立上機資格，為鼓勵廣大師生參加培訓，練習時間按照優惠價格收取基本機時費🧑🔧。
六⚽️🖕🏿、考核
電鏡中心負責老師會組織專家對每個學生進行考核🤸♀️，考核分為理論匯報和實際上機操作兩個部分，考核合格的學員可以獲得獨立操作資格👨🏿🦲🤦🏼，考核不合格學員需繼續練習🧗🏼♂️，同下一期學員一同考核。
七、報名方式
每個參加培訓學員征求導師意見後報名🧛🏼♀️，自行打印安全責任書（見附件）一式三份❤️🔥，個人導師分別簽名後，提交至電鏡中心204辦公室⛹️♀️，報名截止日期2024年10月1日👰🏼♀️。為了保證培訓質量且兼顧需求，每個課題組限報名2人🍫，15人滿額🏌🏼♀️。培訓時間另行通知。
培訓報名：發送郵件至51254700102@stu.ecnu.edu.cn🍖，郵件內備註姓名、院系、聯系方式，後續電鏡中心根據郵件信息與報名人員聯絡🤭。
2024年9月24日